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控制测量学下册(第四版)
商品编号:2289028
ISBN:9787307170247
出版社:武汉大学出版社
作者:孔祥元,郭际明主编
出版日期:2019-06-01
开本:16
装帧:暂无
中图分类:P221
页数:339
册数:1
大约重量:542(g)
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本书是普通高等教育测绘类规划教材,是对第三版的进一步完善和补充。详细介绍了控制测量的基本理论、新技术和新方法。上册主要包括内容包括:控制测量学的基本任务、体系和研究对象,地球重力场的基本知识;测量控制网的技术设计和优化;控制测量的基本测量技术与方法,包括精密测角、精密测距、精密测高以及测量仪器的原理、结构特点和使用方法;测量外业成果的检查与验收。
暂无
孔祥元,武汉大学教授,大地测量专家,享受政府特殊津贴。主讲控制测量学/大地测量学等课程。主要贡献:精密激光测距仪ME-5000测程扩展和MAF一1型便携式频率计的研制,1991年5月通过湖北省教委组织的专家鉴定,达国内领先水平;精密工程测量规范的编制,1993年4月通过国家测绘局组织的专家鉴定,达国际领先水平,作为国家标准由国家技术监督局于1994年12月颁布,获1997年国家测绘科技进步三等奖;电子快速测算法用于大型企业原料资产评估的研究获1996年国家测绘科技进步三等奖;《深圳市城市测量控制网改造工程》,获1998年深圳市科技进步二等奖,同时获国家测绘科技进步三等奖;1999年开始主持基于DGP SRTK配合测深仪技术对白山电站水库库容精密核准的研究项目,已获重要阶段性成果。主编出版的《特种精密工程测量》研究生教材,1995年获全国测绘优秀教材二等奖;《控制测量学》(上下册)获中国大学出版社优秀教材一等奖及全国测绘优秀教材三等奖;翻译出版《精密工程测量的仪器与方法》、《建筑物变形观测的作业方法》等书;在《测绘学报》、《地壳形变与地震》等国家级核心刊物上发表学术论文70余篇。现从事高等精密测量教育与研究。
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