航天器充电效应防护设计手册

第1章绪论
参考文献

第2章充放电物理基础
2．1 物理概念
2．1．1 等离子体
2．1．2 穿透
2．1．3 电荷沉积
2．1．4 电导率与接地
2．1．5 击穿电压
2．1．6 介电常数
2．1．7 屏蔽材料的密度
2．1．8 可导致击穿的电子通量或注量
2．2 电子环境
2．2．1 单位
2．2．2 亚暴环境说明
2．3 航天器充电模型
2．3．1 表面充电的物理过程
2．3．2 电介质充电的物理过程
2．4 放电特性
2．4．1 电介质表面击穿
2．4．2 內部充电击穿
2．4．3 航天器-空间击穿
2．5 耦合模型
2．5．1 集总单元模型
2．5．2 电磁耦合模型
参考文献

第3章航天器设计指南
3．1 过程
3．1．1 概述
3．1．2 设计
3．1．3 分析
3．1．4 试验
3．1．5 检验
3．2 设计指南
3．2．1 通用ESD设计指南
3．2．2 表面ESD设计指南（不包括太阳电池阵）
3．2．3 內部ESD设计指南
3．2．1 太阳电池阵ESD设计指南
3．2．5 特殊情况下的ESD设计指南
参考文献

第4章航天器试验技术
4．1 试验原理
4．2 参数模拟
4．3 通用试验方法
4．3．1 ESD产生设备
4．3．2 ESD试验方法
参考文献

第5章控制及监测技术
5．1 航天器电荷主动控制
5．2 环境及效应监测
参考文献

第6章材料列表及说明
6．1 电介质材料列表
6．2 导电材料列表
参考文献

附录A 术语表
A．1 常数和单位
A．2 缩略词
A．3 名词
A．4 变量
A．5 符号

附录B 空间环境
B．1 空间环境介绍
B．1．1 空间环境的定量描述
B．1．2 数据来源
B．2 地球同步轨道环境
B．2．1 地球同步轨道等离子体环境
B．2．2 地球同步轨道高能粒子环境
B．3 其他地球轨道环境
B．3．1 MEO
B．3．2 PEO
B．3．3 莫尼亚轨道
B．4 其他空间环境
B．4．1 太阳风
B．4．2 地球、木星和土星磁层的对比
参考文献

附录C 环境、电子输运及航天器充电计算程序
C．1 环境程序
C．1．1 AE8／AP8
C．1．2 CRRES
C．1．3 內部充电通量模型（FLUMIC）
C．1．4 CIRE／SATRAD
C．1．5 地球物理与空间环境手册
C．1．6 L2带电粒子环境（L2-CPE）
C．1．7 MIL-STD-1809．USAF空间飞行器的空间环境
C．1．8 地球同步轨道等离子体模型
C．1．9 其他
C．2 输运程序
C．2．1 CREME96
C．2．2 EGS4
C．2．3 Geant4
C．2．4 ITS
C．2．5 MCNP／MCNPE
C．2．6 NOVICE
C．2．7 NUMIT
C．2．8 SHIELDOSE
C．2．9 SPENVIS／DICTAT
C．2．10 TRIM
C．2．11 汇总
C．3 充电程序
C．3．1 EWB
C．3．2 MUSCAT
C．3．3 Nascap-2k及NASCAP系列充电程序
C．3．4 SEE交互式航天器充电手册
C．3．5 SPIS
参考文献

附录D 内部充电分析
D．1 电介质充电的物理原理
D．2 内部充电简单分析
D．3 详细分析
D．4 航天器级分析
D．4．1 剂量与通量之间的转换
参考文献

附录E 试验方法
E．1 电子束试验
E．2 绝缘强度／击穿电压
E．3 电阻率／电导率的确定
E．4 体电阻率的简单测量方法
E．5 基于电子束的电阻率试验方法
E．6 非接触式电位计电阻率测量方法
E．7 介电常数、时间常数
E．8 Vzap试验
E．9 脉冲干扰试验
E．10 部件／组件试验
E．11 表面充电ESD试验环境
E．12 系统级航天器内部ESD试验
参考文献

附录F 旅行者号SEMCAP分析
参考文献

附录G 用于航天器表面充电简单分析的方程
参考文献

附录H 电路板空白区域防充电设计原理
参考文献

附录重地球同步轨道最恶劣环境的附加描述
参考文献

附录J 航天器充电相关重要文献
J．1 美国官方文档
J．1．1 DoD
J．1．2 NASA
J．2 非美国官方文档
J．2．1 美国材料试验协会（AS7M）
J．2．2 欧洲空间标准合作组织（ECSS）
J．2．3 欧洲空间研究和技术中心
J．2．4 日本宇宙航空研究开发机构（JAXA）
J．2．5 其他