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宇航大规模集成电路保证技术
商品编号:2628285
ISBN:9787561250679
出版社:西北工业大学出版社
作者:朱恒静,等
出版日期:2016-08-01
开本:16
装帧:暂无
中图分类:V47
页数:421
册数:1
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宇航大规模集成电路保证技术是航天工业的基础技术之一,对我国航天元器件的自主可控和可持续发展有重要战略支撑作用。《宇航大规模集成电路保证技术》在分析航天工程对大规模集成电路的需求、大规模集成电路及保证技术发展趋势的基础上,结合中国空间技术研究院宇航物资保障事业部多年的工程实践,构建了宇航大规模集成电路保证技术体系,对相关专业的新技术进行详细阐述,内容包括过程保证、鉴定、封装可靠性评价、可靠性分析、应用验证、抗辐射保证及测试等技术,并给出了商用器件保证的方法和流程。《宇航大规模集成电路保证技术》叙述由浅人深、简明扼要、内容丰富。
《宇航大规模集成电路保证技术》可作为高等院校航天专业的基础教材,也可供从事宇航大规模集成电路设计、制造及可靠性保证的相关技术和管理人员阅读参考。
第1章大规模集成电路发展趋势1.1概述1.2集成电路发展趋势1.3宇航大规模集成电路技术发展趋势1.4大规模集成电路快速发展对保证技术带来的挑战1.5本章小结第2章大规模集成电路保证技术发展历程2.1大规模集成电路宇航应用要求2.2美国大规模集成电路保证2.3欧洲大规模集成电路保证2.4中国大规模集成电路保证2.5对比分析2.6本章小结第3章宇航大规模集成电路保证技术体系3.1大规模集成电路保证的内涵3.2保证的主要内容3.3保证的流程与结果评价3.4保证技术体系3.5本章小结第4章定制集成电路过程保证4.1概述4.2国内外现状4.3定制集成电路研发和保证4.4定制集成电路过程保证4.5相关技术4.6本章小结第5章鉴定5.1鉴定的内涵5.2国内外现状5.3集成电路可靠性预计模型及参数5.4鉴定的流程和方法5.5相关技术5.6本章小结第6章封装可靠性评价6.1概述6.2封装可靠性评价的概念6.3大规模集成电路典型封装和工艺6.4封装可靠性评价流程6.5相关技术6.6典型封装可靠性评价案例6.7本章小结第7章失效分析、破坏性物理分析和结构分析7.1概述7.2失效分析技术7.3破坏性物理分析技术7.4结构分析技术7.5本章小结第8章应用验证8.1概述8.2国内外现状及趋势8.3应用验证与产品成熟度8.4应用验证的实施8.5应用验证技术8.6本章小结第9章大规模集成电路抗辐射保证9.1概述9.2空间辐射环境9.3大规模集成电路辐射效应9.4宇航大规模电路抗辐射保证要求9.5宇航大规模集成电路抗辐射需求分析9.6电离总剂量辐照试验9.7位移辐照试验9.8单粒子效应辐照试验9.9大规模集成电路应用加固技术9.10本章小结第10章测试10.1概述10.2测试技术面临的挑战10.3测试的实施流程10.4相关技术10.5本章小结第11章商用器件保证11.1概述11.2商用器件宇航应用的需求和现状11.3商用器件的特点和风险11.4商用器件宇航应用的保证方法11.5相关技术11.6典型案例:NAND FLASH存储器筛选和鉴定11.7本章小结参考文献
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