您的位置:首页 图书列表 晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
收藏
评价
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
商品编号:7651122
ISBN:9787040610963
出版社:高等教育出版社
作者:马秀良著
出版日期:2024-01-01
开本:0
装帧:暂无
中图分类:O766
页数:604
册数:1
大约重量:470(g)
购买数量:
-
+
库存:34
配送:
预计72小时发货
甲虎价: 99.8 (6.7折)
原价:¥149.00
图书简介
图书目录
作者简介
图书评价
本书以多种典型晶体结构及缺陷的分析表征实验案例为主线,包含金属和合金材料中的复杂合金相、碳化物、硼化物、硫化物、尖晶石型氧化物等晶体,介绍了电子显微学及晶体学基础知识。
商品评价 (0)
为您推荐
方便
200万图书品种,一站式采购
高效
10分钟查单返单,48小时快速配货
放心
正版低价,假一赔三
在线客服
购物车
收藏夹
留言板
返回顶部